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【專家觀點】

在半導體檢測中,往往因不同表面性質的基板而造成檢測上的誤差,台灣...

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【專家觀點】

在半導體檢測中,往往因不同表面性質的基板而造成檢測上的誤差,台灣西克因此首創「紫光三角法」,突破傳統3D線雷射檢測瓶頸與In-Line的全檢需求,協助許多國內外AOI設備廠家解開晶圓微凸塊的檢測瓶頸。

https://www.digitimes.com.tw/iot/article.asp?cat=158&cat1=20&cat2=10&cat3=14&id=0000615835_B5V72MV14UOPTX4IEKIHM


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